超聲波測(cè)厚儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

38DL PLUS測(cè)厚儀是一款開(kāi)創(chuàng)超聲測(cè)厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測(cè)厚儀適用于幾乎所有超聲測(cè)厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL PLUS測(cè)厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測(cè)量，以及使用單晶探頭對(duì)薄壁或多層材料進(jìn)行的極其精確的壁厚測(cè)量。 

38DL PLUS的標(biāo)準(zhǔn)配置帶有很多既強(qiáng)大又易于使用的測(cè)量功能，以及一些專用于某些特殊應(yīng)用的軟件選項(xiàng)。其密封機(jī)殼的設(shè)計(jì)符合IP67評(píng)級(jí)要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴(yán)酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測(cè)厚儀顯示屏無(wú)論在明亮的陽(yáng)光下還是在*的黑暗中都能具有很好的可視性。測(cè)厚儀的鍵區(qū)既簡(jiǎn)潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問(wèn)所有功能。

主要特性：

• 可與雙晶和單晶探頭兼容。 

• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。 

• 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。 

• 穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。 

• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。 

• 對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。 

• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001

毫米的厚度測(cè)量。 

• 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 

• 高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 

• 厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。 

• 差分模式和縮減率模式。 

• 時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。 

• 帶有數(shù)字式過(guò)濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。 

• 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。 

• 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念

• 可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。 

• 可直接訪問(wèn)所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。 

• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。 

• USB和RS-232通訊端口。 

• 可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。 

• 可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。 

• 默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。 

• 默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。 

• 密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口

38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。 

• 內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。 

• 32位字符的文件名稱。 

• 20位字符的ID# (TML#)編碼。 

• 9個(gè)文件格式：增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動(dòng)型。 

• 每個(gè)ID# (TML)編碼可最多存儲(chǔ)4個(gè)注釋。 

• 注釋可存儲(chǔ)到一個(gè)ID#編碼上或存儲(chǔ)到一系列ID#編碼上。 

• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。 

• 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件。 

• 標(biāo)準(zhǔn)USB和RS-232通信。 

• 單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。 

• 機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告。 

• 機(jī)載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。 

• GageView接口程序通過(guò)USB或RS-232端口與38DL PLUS測(cè)厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲(chǔ)卡上寫入信息。 

• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號(hào)分隔值）格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡。

GageView™

• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來(lái)自38DL PLUS測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)。

• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)。

• 編輯所存數(shù)據(jù)。

• 顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值。

• 從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量總結(jié)，或上傳厚度測(cè)量總結(jié)至測(cè)厚儀。

• 將測(cè)量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。

• 收集捕獲的屏幕。

• 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告。

• 升級(jí)操作軟件。

• 下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。

• B掃描回顧

對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測(cè)量

38DL PLUS測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中最常使用的是雙晶探頭。 

• 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。 

• 10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。 

• 校準(zhǔn)過(guò)程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。 

• 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。 

• 校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。 

• 用于測(cè)量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能。 

• 高溫測(cè)量：溫度可高達(dá)500°C。 

• 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測(cè)量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。 

• EMAT探頭（E110-SB），用于對(duì)外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測(cè)量。